Photovoltaik-WIS

Photovoltaik

Wafer Inspektionssysteme

 

 

Als Wafer bezeichnet man eine gesägte Siliziumscheibe, die den Rohling für die Herstellung einer Solarzelle darstellt. Die Qualität der Wafer ist entscheidend für den Wirkungsgrad der zukünftigen Solarzelle, beschädigte und mangelhafte Wafer müssen aussortiert werden. Jonas & Redmann entwickelt, konstruiert und fertigt Anlagen zur Qualitätskontrolle und Klassifizierung von Rohwafern in enger Zusammenarbeit mit namhaften Anbietern von Inspektionssystemen.

 

Unser Wafer Inspection System - WIS - dient der vollautomatischen Prüfung von mono- und polykristallinen Siliziumwafern. Der modulare Aufbau der Anlage ermöglicht eine individuelle Ausstattung mit den modernsten Inspektionstechnologien sowie eine problemlose Integration in Ihre Produktionslinie.

 

Das System ermöglicht Ihnen einen Durchsatz von bis zu 3600 Wafern/h bei niedrigsten Bruchraten. Wie alle unsere Anlagen zeichnet sich das WIS durch eine exzellente Material- und Verarbeitungsqualität sowie hohe Wartungs- und Bedienfreundlichkeit aus.

 

Die Anlage kann an Ihr MES-System, sowie an ein vollautomatisches Transport- und Speichersystem angebunden werden.

 

Optionen/Features:
  • Inline-Anbindung oder Stand-alone Ausführung möglich
  • Materialzuführung über Carrier, Magazine, Box oder direkt aus der Nassbank
  • Konfigurierbares Messmodul: basic, standard oder  premium
  • Sehr zuverlässige micro-crack Detektion
  • Optimale Abstimmung zwischen Automatisierung und Inspektion (stop and go und on-the-fly Messungen)
  • Konfigurierbare Anzahl von Sortierklassen

 

Downloads:

 

Sprechen Sie mit unseren Experten! Gern beraten wir Sie in allen Fragen zu unserem Wafer Inspection System.